1.電介法露點(diǎn)儀的測量原理
利用五氧化二磷等材料吸濕后分解成極性分子，從而在電極上積累電荷的特性，設計出建立在*含濕量單位制上的電解法微水份儀。目前國際上*高精度達到±1.0℃(露點(diǎn)溫度)，一般精度可達到±3℃以?xún)取?br />露點(diǎn)儀的測量原理對比
2.電式露點(diǎn)儀的測量原理
采用親水性材料或憎水性材料作為介質(zhì)，構成露點(diǎn)儀電容或電阻，在含水份的氣體流經(jīng)后，介電常數或電導率發(fā)生相應變化，測出當時(shí)的電容值或電阻值，能知道當時(shí)的氣體水份含量。建立在露點(diǎn)單位制上設計的該類(lèi)傳感器，構成了電傳感器式露點(diǎn)儀。目前國際上z高精度達到±1.0℃(露點(diǎn)溫度)，一般精度可達到±3℃以?xún)取?br />3.鏡面式露點(diǎn)儀測量原理
不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會(huì )結露。采用光電檢測技術(shù)，檢測出露層并測量結露時(shí)的溫度，直接顯示露點(diǎn)。鏡面露點(diǎn)儀制冷的方法有：半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點(diǎn)儀采用的是直接測量方法，在保證檢露準確、鏡面制冷高效率和精密測量結露溫度前提下，該種露點(diǎn)儀可作為標準露點(diǎn)儀使用。目前國際上*高精度達到±0.1℃(露點(diǎn)溫度)，一般精度可達到±0.5℃以?xún)取?br />4.晶體振蕩式露點(diǎn)儀的測量原理
利用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性，可以設計晶體振蕩式露點(diǎn)儀。這是一項較新的技術(shù)，目前尚處于不十分成熟的階段。國外有相關(guān)產(chǎn)品，但精度較差且成本很高。
5.半導體傳感器露點(diǎn)儀的測量原理
每個(gè)水分子都具有其自然振動(dòng)頻率，當它進(jìn)入半導體晶格的空隙時(shí)，*和受到充電激勵的晶格產(chǎn)生共振，其共振頻率與水的摩爾數成正比。水分子的共振能使半導體結放出自由電子，從而使晶格的導電率增大，阻抗減小。利用這一特性設計的半導體露點(diǎn)儀可測到-100℃露點(diǎn)的微量水份。
6.紅外露點(diǎn)儀的測量原理
利用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性，可以設計紅外式露點(diǎn)儀。目前該儀器很難測到低露點(diǎn)，主要是紅外探測器的峰值探測率還不能達到微量水吸收的量級，還有氣體中其他成份含量對紅外光譜吸收的干擾。但這是一項很新的技術(shù)，對于環(huán)境氣體水份含量的非接觸式在線(xiàn)監測具有重要的意義。